蔡司冷冻关联显微镜工作流程
蔡司冷冻关联工作流程联接宽场显微镜、激光共聚焦显微镜和双束电镜，以实现体积成像和TEM薄片的高效制备。该解决方案提供了针对冷冻关联工作流程需求而优化的硬件和软件，从荧光大分子的定位到高衬度体积成像和用于冷冻电子断层成像的薄片减薄。
机器视觉镜头
机器视觉镜头用高性能高分辨率镜头采用超低失真设计，低畸变率，具有多种光学校正方式，大限度的减少像差的发生，使其在空间频率数高的频带处也可维持较高的MTF值，对比度清晰度高。
蔡司扫描电镜原位解决方案
扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域，它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来，这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作，有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效，蔡司最新推出了扫描
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）
蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）将共聚焦拉曼成像系统（CRM）集成在SEM舱室中。具有优异表面分析能力的SEM成像与Raman分析功能优势结合，助力您的研究更上一层楼。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
尼康 Nikon JCM-5000 台式电子显微镜
JCM-5000型 NeoScope台式扫描电子显微镜，补充和发展了光学显微镜和传统扫描电子显微镜。该NeoScope可像数码相机一样操作简单，在轻松获得大倍数图像的同时，保持着高分辨率和大景深，具有扫描电子显微镜的强大电子光学性能。
蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。